SEM扫描电镜在地矿学、微电子工业、刑事侦查行业的应用介绍

地矿学

1）扫描电镜能分析矿物表面形貌，组织和组成。通过SEM扫描电镜观测矿物微区变化能为矿物成岩环境与历史演化分析提供证据；能观测粘士矿物形态，分布，性质与共生组合等特征，为粘土矿物成因与地球化学背景分析奠定基础；能分析储集岩矿物组成，结构构造，孔隙类型与成因等特征，并为储层优劣评价提供参考。

2）扫描电镜可以研究岩土组成，构造和坚固性。可用来观测宇宙尘，陨石及月岩等的形态特征，构造，以便对推断其成因和认识宁宙提供了有效资料；可以对古微生物化石形态，排列方式进行研究，对测定地质年代及地层形成古地理环境等提供数据。

 微电子工业

半导体器件性能与稳定性与器件表面微观状态有关。SEM扫描电镜可用于半导体二极管、三级管、集成电路或者液晶显示器的失效分析、微观形貌的观察以及失效点和缺陷点的查找与观测，准确测量器件微观几何尺度及表面点位分布情况等，并与能谱相结合也可以分析污染物中各要素。有利于失效原因的分析、制备工艺的完善和有效措施预防事故。

利用扫描电镜观察到的光栅的周期性结构。利用SEM扫描电镜图可对光栅的周期性距进行测量，观察光栅上是否有缺陷位点。

刑事侦查

扫描电镜应用于刑事侦查，其特点是用量少、对检材无损害，可用来检验射击残留物、爆炸残留物、油漆、涂料、文书、金属附着物、刮擦／撬压痕迹、毒物、生物类物证（土壤、植物组织、纤维、骨、组织和毛）。通过观察、比对这批物证微观形貌，并结合能谱进行成分分析，可为调查提供线索或证实作案提供科学依据。